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Neu im AngebotLau, John/Kuo-Ning Chiang
Cu-Interconnects, Glass, and AI-Assisted Simulation for Chiplets and Heterogeneous Integration
This book focuses on the design, materials, process, fabrication, quality, reliability, fatigue, fracture, and artificial intelligence (AI) assisted in chiplets and heterogeneous integration. Both principles and engineering practice have been addressed, with more emphasis placed on engineering practice. This is achieved by providing in-depth study on a number of major topics such as Cu interconnects, glass-core substrate, 3D heterogeneous integration of photonic IC and electronic IC, and combining simulation design with AI technology to effectively apply it to semiconductor packaging. XXII,547 Seiten mit 487 Farb- und 39 s/w-Abb., gebunden (Springer Nature Singapore 2026) leichte Lagerspuren/unused, minor shelfwearBestell-Nr.: 135651
ISBN-13: 9789819568901
ISBN-10: 9819568900
Erscheinungsjahr: 2026
ISBN-13: 9789819568901
ISBN-10: 9819568900
Erscheinungsjahr: 2026
Bindungsart: gebunden
Umfang: XXII,547 Seiten mit 487 Farb- und 39 s/w-Abb.
Gewicht: 1,02 kg
Verlag: Springer Nature Singapore
Umfang: XXII,547 Seiten mit 487 Farb- und 39 s/w-Abb.
Gewicht: 1,02 kg
Verlag: Springer Nature Singapore
Autor*innen: John Lau, Kuo-Ning Chiang
Sprache: Englisch
Zustand: Wie neu, leichte Lagerspuren/unused, minor shelfwear
Sprache: Englisch
Zustand: Wie neu, leichte Lagerspuren/unused, minor shelfwear
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