Scheer, Stefan: Internationales Patent-, Muster- und Marken-Recht,

Band I: PCT, Argentinien bis Italien. Band II: Japan bis Weißrussland, Internationale Abkommen. 61. Auflage. Zwei Bände, zus. 1.465 Seiten, broschiert (Hans-Scheer-Fachverlag 2002) leicht bestoßen

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Gewicht: 850 g
Sprache: Deutsch
Sachgebiet: Rechtswissenschaft
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