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Stefan Scheer

Buchcover Internationales Patent-, Muster- und Marken-Recht,
Scheer, Stefan
Internationales Patent-, Muster- und Marken-Recht,
Band I: PCT, Argentinien bis Italien. Band II: Japan bis Weißrussland, Internationale Abkommen
Rechtswissenschaft
Hans-Scheer-Fachverlag 2002
Bestell-Nr. 322102
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